




Phase12 熱阻測試儀產(chǎn)自美國 Analysis Tech(Anatech)公司,符合美軍標和 JEDEC 標準.
Analysis Tech Inc.成立于 1983 年,坐落于波士頓北部,是電子封裝器件可靠性測試的國際設(shè)計,制造公司。創(chuàng)始人 John W.Sofia 是美國麻省理工的博士,并且是提出焊點可靠性,熱阻分析和熱導(dǎo)率理論的. 發(fā)表了很多關(guān)于熱阻測試于分析,熱導(dǎo)率及焊點可靠性方面的. Analysis Tech Inc.在美國有獨立的實驗室提供技術(shù)支持. 在全世界熱阻測試儀這套設(shè)備有幾百家客戶.
主要用于測試二極管,三極管,線形調(diào)壓器,漏電點定位多少錢,可控硅,LED,MOSFET,MESFET ,IGBT,IC 等分立功率器件的熱阻測試及分析。


需要考慮的是X射線束視場直徑或稱錐束角。 進行微焦點X射線檢測,當焦距很近時,錐束角或視場范圍非常重要。例如,25°錐角的微焦點X射線機的曝光次數(shù)要小于15°錐角的微焦點X射線機在檢測相同范圍時的曝光次數(shù)。蘇州特斯特電子科技有限公司,主要從事各類測試、檢測儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù),產(chǎn)品涵蓋電子元器件,電路板,線纜線束的測試與檢測。設(shè)備主要來自于歐美日等測試設(shè)備制造國家。


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